KLA-Tencor 成長與新興市場集團副總裁 Jeff Donnelly 表示：「Candela 7100 系列代表我們在光學表面分析技術上的創新延伸，這是一項具備空前缺陷檢測及分類技術的工具，廣受客戶認同。憑藉著更高的靈敏度和分類能力，7100 系列的多合一解決方案可降低對其他工具的依賴，協助我們的客戶降低成本，更快取得結果。」

硬碟密度的持續成長代表著更高的技術要求，要達到更低的表面污染 (surface contamination) 水準、更平滑的磁片表面、更高靈敏度以滿足較小的缺陷尺寸，在製程早期控制關鍵缺陷也更形重要。此外，隨著讀寫磁頭的機械飛行高度逐漸降低，微小缺陷對良率的衝擊亦隨之提升。Candela 7100 系列具備業界領先的高靈敏度，是一項足以解決上述挑戰的理想解決方案。

硬碟產業必須維持優異的性價比以滿足客戶，因此製造商必須維持成本競爭力、更快取得結果，並採取統計數字上最佳的決策。Candela 7100 降低了對眾多非生產性工具與方法的依賴，諸如原子力、掃描電子與透射電子顯微鏡，以及電性測試。目前需要透過眾多檢測工具才能完成的分析，現在能夠以更快速度和更低成本，完成於單一機台。

Candela 7100 系列正接受儲存科技領導廠商 ─ 日立環球儲存科技 (HGST) 的認證。

KLA-Tencor 已開始接受 Candela 7100 系列的訂單，預計 10 月份開始出貨。

Candela 7100 技術摘要

Candela 7100 系列體現了 KLA-Tencor 對資料儲存市場的持續耕耘，這項創新技術也顯示了 KLA-Tencor 針對下一代圖形化媒體需求的發展腳步。Candela 7100 系列的新功能包括：

• 一個新的雙波長雷射配置，經由最佳化，可達成更高靈敏度、更好的雷射輸出與穩定性，在基於各層的 (layer-based) 功耗模式上，對應用設定有更高靈活性。

• 多個獨立的散射檢測儀，可以檢測並分類多項次微米級缺陷，諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等。

• 更進步的的相位、光譜與磁通道，在捕捉瑕疵及反映高階垂直錄寫 (PMR) 磁碟表面上，提供了更高的靈敏度與穩定性。

- 新聞稿有效日期，至2008/10/24為止

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