【2010年 6 月 7 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷日前宣布出貨第250套V93000 Port Scale射頻測試系統。此項里程碑證明V93000自2007年6月上市以來備受市場肯定，迅速獲得整合元件製造商 (IDM)、IC設計公司及其封測代工 (OSAT) 夥伴的廣泛採用。業界領導廠商已採用此機台測試多種射頻元件，包括2G、3G與4G行動通訊、藍芽、無線區域網路 (WLAN)、WiMAX以及全球定位系統 (GPS)。在目前眾多的消費性電子裝置中，射頻元件扮演著關鍵角色，在產品尺寸、外型與製造成本均持續緊縮的趨勢之下，半導體製造商積極地將更多的射頻功能整合至可支援多項通訊協定的單晶片上。因此，為了兼顧成本效益與穩定度，以量產測試埠較多且頻寬較大的射頻IC，半導體製造商皆追求具備低成本特性的先進測試效能。
惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統最多可配置96個射頻測試埠，提供8組元件並行測試，以高效率的多元件並行測試能力，達成高品質且低成本的產出。這套可擴充的測試系統可依據不同的功能與價格定位來配置，滿足每個客戶的特定需求。無論是功率放大器、調諧器、收發器等低整合度裝置，或是整合混合訊號、數位、電源管理以及嵌入式或堆疊式記憶體的高整合度射頻裝置，皆可由V93000進行測試。此外，V93000的多功能測試架構讓客戶能運用單一機台測試所有的射頻與系統單晶片 (SoC) 產品線，無需為不同應用的產品設置多個測試平台。
惠瑞捷SOC測試事業部副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「Port Scale 射頻系統可讓客戶依據不同的射頻元件區隔應用進行彈性調整，範圍涵蓋高度整合、低度整合及介於其中的各種元件。這次在出貨量上達成的記錄再次證明V93000機台具備前所未有的強大效能，能為多元化的各類應用提供最具成本效益的解決方案，幫助客戶極大化產能利用率，實現最高的投資報酬率。」
惠瑞捷股份有限公司專精於提供先進的半導體測試系統與解決方案，供全球許多知名的公司進行設計驗證、特性量測、以及大量生產測試。惠瑞捷提供的各式可擴充平台涵蓋各種系統單晶片 (SoC) 測試解決方案、快閃記憶體和DRAM (包括高速記憶體) 的測試解決方案、以及多晶片封裝元件測試解決方案。惠瑞捷提供的先進分析工具可協助客戶加快設計除錯與良率提升的過程。有關惠瑞捷公司更詳細的資訊，可查詢 www.verigy.com 網站。
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新聞聯絡人：
萬博宣偉公關 徐元貞 / 鄭凱雯
- 新聞稿有效日期，至2010/07/10 為止
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