原先設計作為伺服器記憶體模組的測試平台，金士頓KT2400動態Burn-in測試器是能夠用來測試多種不同的記憶體模組規格。

金士頓科技全球測試工程副總裁以及KT2400 測試器的發明者之一的Dr. Ramon Co 指出：「我們對於KT2400能夠得到美國專利感到十分欣喜。在設計KT2400初期，我們的使命為創造一個能夠讓記憶體模組經過最嚴格之電池電源測試的測試平台環境，模擬出一個最嚴峻的伺服器環境。最常發生的記憶體可靠性錯誤為早期故障 (Early-Life Failure，ELF)，而ELF被定義為發生在正常運作前三個月期間之錯誤。我們的目標是設計出一個能夠模擬ELF階段環境、並且能夠篩選出任何不可靠模組之測試平台。」

KT2400 Burn-In Testing 結果
利用特別設計過之測試版—Advanced Pattern Testing Controllers，每個 KT2400測試器能夠同時測試多達500個記憶體模組。在測試過程中，記憶體模組皆在高溫、高壓力以及高電壓環境之下，讓所有的記憶體細胞持續不斷地運作一段時間。這個測試過程能夠加速進行模組的使用期，所以能夠模擬出正常運作的前三個月情況。因此，那些會有不良情況出現的不可靠記憶體模組能夠在出廠前被過濾出。

想要更了解KT2400測試器，請瀏覽金士頓網站： http://www.kingston.com/branded/server_memory.asp.

關於金士頓：
金士頓科技是全球最大的記憶體模組產品的生產供應商，公司的生產基地分佈於美國的加州、亞洲的馬來西亞、台灣和中國大陸。其中在美國的工廠還包括Payton Technology Co.。這是一家半導體後段封裝的公司，提供記憶體DRAM顆粒的封裝、測試及後勤性的服務。Payton Technology Co.的加入，使金士頓提供全盤記憶體製程的服務，從收到半導體的晶圓片，到記憶體模組產品的完成。金士頓偏佈全球的服務網，包括代理商、OEMs、系統整合商及零售廠商超過了3,000家。欲知更詳盡的資訊請洽金士頓網站：www.kingston.com/taiwan。

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- 新聞稿有效日期，至2005/09/01為止

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