協辦單位:中研院

承辦單位:台大慶齡工業中心

上課時間: 8/4(五), 8/5(六) , 8/11(五) , 8/12(六)
09:00 ~16:00；共計24小時

此課程由中山大學講師、積智科技執行協理--施文宗授課。

凡半導體產業、系統廠商之產品佈局開發與半導體相關者、與從事與半導體產業相關事務者(如產業分析、專利與智財分析…等)在職人才， 由工業局補助50%學費，總計新台幣 11000元政府補助新台幣 5500元；學員自付新台幣 5500元 。

課程簡介:
1. Overview of Mixed Signal Testing
2. DC and Parametric Measurement
3. Sampling Theory
4. Measurement Accuracy and Test Hardware
5. DSP-Based Analog and Mixed Signal Test
6. Analog and Sampled Channel Testing
7. DAC and DAC Testing
8. ADC and ADC Testing
9. PLL and PLL Testing

報名專線: 02-23628136 及 02-23693661 轉分機 48
或請線上報名

上課地點:台大慶齡中心研討室(台北市基隆路三段130號)

更多詳細內容請上 http://www.tl.ntu.edu.tw/online.asp

- 新聞稿有效日期，至2006/08/26為止

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