《數位之牆》台大[VLSI測試程式原理實務]短期訓練課程

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1996(2)

產業動態	台大[VLSI測試程式原理實務]短期訓練課程

台大慶齡工業中心

本新聞稿發佈於2006/07/30，由發布之企業承擔內容之立場與責任，與本站無關

由本課程由施文宗 (國立中山大學講師、積智科技執行協理 )授課。課程包括VLSI, Device, DC Parametric, AC Parametric, Characterization Test等，目的是為了提升國內VLSI測試實務技術能力。除了提升國內測試實務技術能力，解決業界技術人才不足之困難外，更提供對有興趣人士進修或培育第二專長的機會。本課程並獲政府補助50%學費。

■ 發布／輪播新聞稿

新聞稿直達14萬電子報訂戶刊登新聞稿：按此

主辦單位:經濟部工業局
協辦單位:中研院
承辦單位:台大慶齡工業中心
上課時間:9/8(五), 9/9(六), 9/15(五), 9/16(六) 09:00 ~16:00；共計24小時
課程簡介:
Introduction to VLSI Testing
Introduction to Principle of ATE
Device and Device Testing
Specification
DC Parametric Testing
Functional Testing
AC Parametric Testing
Characterization Test
Test Pattern Development
Test Program Development (option)
Design For Testability (option)
參加對象:Introduction to VLSI Testing
Introduction to Principle of ATE
Device and Device Testing
Specification
DC Parametric Testing
Functional Testing
AC Parametric Testing
Characterization Test
Test Pattern Development
Test Program Development (option)
Design For Testability (option)

參加對象:半導體產業、系統廠商之產品佈局開發與半導體相關者、與從事與半導體產業相關事務者(如產業分析、專利與智財分析…等)在職人才。

課程費用:總計新台幣 11000元政府補助新台幣 5500元；學員自付新台幣 5500元
報名方式:http://www.tl.ntu.edu.tw/online.asp (請線上報名)
更多詳情請參考網址內容或請洽02-23628136 及 02-23693661 轉分機 47

- 新聞稿有效日期，至2006/08/30為止

聯絡人　：趙小姐
聯絡電話：02-23628136 轉47
電子郵件：tren@tl.ntu.edu.tw

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