課程由半導體業界的師資授課。課程包括VLSI, Device, DC Parametric, AC Parametric, Characterization Test等,目的是為了提升國內VLSI測試實務技術能力。除了提升國內測試實務技術能力,解決業界技術人才不足之困難外,更提供對有興趣人士進修或培育第二專長的機會。歡迎有志於提昇半導體VLSI測試測試能力之工程師踴躍報名。
課程主旨 由本課程由半導體業界的師資授課。課程包括VLSI, Device, DC Parametric, AC Parametric, Characterization Test等,目的是為了提升國內VLSI測試實務技術能力。除了提升國內測試實務技術能力,解決業界技術人才不足之困難外,更提供對有興趣人士進修或培育第二專長的機會。歡迎有志於提昇半導體VLSI測試測試能力之工程師踴躍報名。 課程簡介 Introduction to VLSI Testing Introduction to Principle of ATE Device and Device Testing Specification DC Parametric Testing Functional Testing AC Parametric Testing Characterization Test Test Pattern Development Test Program Development (option) Design For Testability (option)