【台北訊 – 2017年9月12日】NI國家儀器 (Nasdaq: NATI) 為平台架構系統供應商，致力於協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰，今日於「2017 SEMICON Taiwan NI展前記者會」發佈第二代向量訊號收發儀(VST)的基頻模組 PXIe-5820，並揭露NI近期在半導體 DC 量測上，包含Open-Short 測試與小於1fA Wafer 量測的最新斬獲。面對4G到5G的市場過渡期，能否在射頻晶片測試上取得優勢至關重要。NI推出的PXIe-5820擁有市場上1GHz最大頻寬的向量訊號基頻能力，可以分析5G、802.11ax與LTE-Advanced Pro等最新無線標準；FPGA架構則可使量測速度提升10倍，並讓工程師透過使用者可程式化FPGA進行客制化處理，以增加特定的應用功能。
此外，PXIe-5820還可搭配NIRFmx測量軟體與NI-CLK專利技術使用。RFmx量測軟體可以協助PXIe-5820偵測多標準下的快速除錯(Debug)解決方案，提供業界最佳的動態範圍測試；而NI T-CLK技術能精準地同步RF封包追蹤(Envelope Tracking RF)與基頻硬體量測，讓企業能大幅降低整體測試成本並縮短產品上市時間。
除了射頻上的進展，NI展示由夥伴思衛科技以基於NI PXIe-6570高Pin數所打造的Open-Short測試儀，該款產品具備2048通道數的數位測試功能，其高度吞吐量的特色更使每通道測試時間低於1毫秒，能在高精準測試需求的環境中提升生產效率。此外，透過客製化分析與自動化工具，OS測試儀亦支援多測項的儀器需求，協助企業在優化封閉測試系統的的同時，仍能維持開放性以因應市場上多變的需求。
透過NI SEMICON所祭出的解決方案，半導體設備商能從傳統的測試解決方案，穩健地邁向開放式、智能化的模組平台。NI敬邀業界先進在2017 SEMICON Taiwan期間，蒞臨台北南港展覽館1樓I1126攤位，現場將有NI的專業人員與合作夥伴進行實機展示解說，讓與會者深度了解開放式的模組化測試平台如何協助工程師解決複雜的測試環境。
關於 NI 國家儀器
- 新聞稿有效日期，至2017/10/12 為止
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