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課程大綱： 1. Introduction to VLSI Testing 2. Digital Circuit Testing Fundamentals 3. Digital Circuit Design for Testability
4. Digital Circuit Built-in Self Test 5. Analog Circuit Testing Fundamentals 6. Analog Circuit Design for Testability 7. ADC/DAC Architecture and Testing Techniques 8. Analog Circuit Testing – Practical Techniques - 新聞稿有效日期，至2003/10/07為止
聯絡人 ：吳小姐
聯絡電話：03-5712121#54325
電子郵件：eerc@cn.nctu.edu.tw
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